Microscopia, diffrazione e riflettometria
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Diffrazione dei raggi X (XRD)
La diffrazione dei raggi X (XRD) è una tecnica non invasiva usata per determinare la struttura atomica e molecolare dei… Read More -
Microscopia a forza atomica (AFM)
La microscopia a forza atomica (AFM) è una potente tecnica di imaging che, scansionando mediante una punta acuminata (diametro finale… Read More -
Riflettometria di Raggi-X in Dispersione d’energia (EDXR)
La Riflettometria di Raggi X (XRR) è una tecnica analitica di superficie molto sensibile, utilizzata in chimica, fisica e scienza… Read More -
Spettroscopia a raggi X in dispersione di energia (EDXD)
La spettroscopia a raggi X in dispersione di energia è una tecnica analitica per la caratterizzazione dei materiali: produce risultati… Read More -
Diffrazione di elettroni a bassa energia (LEED)
La diffrazione di elettroni a bassa energia (LEED) è utilizzata per lo studio della struttura superficiale di materiali ordinati. In… Read More -
Riflessione di elettroni ad alta energia diffrazione (RHEED)
La riflessione di elettroni ad alta energia (RHEED) è una tecnica di diffrazione che utilizza un cannone di energia variabile,… Read More -
Microscopia ottica a scansione a campo prossimo (SNOM)
La microscopia ottica a scansione a campo prossimo (SNOM) consente di osservare strutture ottiche localizzate sulla superficie o all’interno di… Read More -
Scanning tunnelling microscopy (STM)
La microscopia ad effetto tunnel (STM) è una tecnica che permette lo studio della superficie dei materiali con una risoluzione… Read More -
Diffrazione di fotoelettroni (PED)
La diffrazione di fotoelettroni (PED) è un’applicazione avanzata dell’XPS, che viene usata per determinare le proprietà strutturali dei solidi, come… Read More
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