La microscopia a forza atomica (AFM) è una potente tecnica di imaging che, scansionando mediante una punta acuminata (diametro finale tipico 5-10 nm) una superficie, può produrre immagini topografiche su scala nanometrica.
È versatile perché un microscopio AF non può non solo produrre immagini topografiche tridimensionali, ma fornisce anche vari tipi di misurazioni della superficie utili alle esigenze di scienziati e ingegneri. È potente perché genera immagini a risoluzione atomica con informazioni sull'altezza delle superfici sulla scala dell’angstrom, richiedendo una preparazione minima del campione
L’Istituto di Struttura della Materia dispone di alcuni AFM che permettono di scansionare aree da 0.5µm x 0.5 µm fino a 200µm x 200µm. Due sono gli strumenti commerciali (AFM Nanosurf e AFM Quesant) mentre gli altri sono home-made. Si possono fare delle indagini su scala nanometrica di film sottili e materiali a bassa dimensionalità, studi sul metabolismo e la motilità cellulare con i nanomotion sensors e molto altro. Alcuni AFM possono lavorare nei liquidi.
AFM Quesant AFM@XRaySpectroscopy AFM@Biotech AFM@Nanospectroscopy
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