Il microscopio AFM Quesant Resolver 250 permette lo studio della morfologia delle superfici grazie alle sue proprietà di scanning non distruttivo su grandi superfici. In particolare, questo sistema genera immagini topografiche della superficie studiata con risoluzione atomica, determinando rugosità, dimensione dei grani e tutte le alte proprietà sulla nanoscala.
Il sistema è dotato di un microscopio con una vista top-down di 90°, che consente di allineare la sonda sulla superficie del campione sotto test. Uno stage di movimentazione X-Y manuale permette di ospitare campioni con diametro fino a 6 pollici (150 mm).
Il dispositivo utilizza una tecnica di scansione proprietaria denominata WaveMode (una modalità di contatto intermittente che consente frequenze di scansione fino a 20 Hz).
Il sistema è dotato di un microscopio con una vista top-down di 90°, che consente di allineare la sonda sulla superficie del campione sotto test. Uno stage di movimentazione X-Y manuale permette di ospitare campioni con diametro fino a 6 pollici (150 mm).
Il dispositivo utilizza una tecnica di scansione proprietaria denominata WaveMode (una modalità di contatto intermittente che consente frequenze di scansione fino a 20 Hz).
SPECIFICHE TECNICHE
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X-Y Translation Stage: manuale;
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Z Translation Stage: motorizzato e automatizzato;
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Risoluzione massima immagini: 1024 x1024 pixel;
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Scanning area massima: da 10x0 µm2 a 80x80 µm2;
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Risoluzione laterale: 1 nm;
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Risoluzione verticale: 0.1 nm.
TECNICHE DISPONIBILI
- Modalità di scanning: AFM a contatto Intermittente (WaveMode™)
CAMPIONI
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Dimensione massima campioni: 6"x6"/150x150 mm2
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Altezza massima campioni: 2.5"/ 67 mm.
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