La microscopia ottica a scansione a campo prossimo (SNOM) consente di osservare strutture ottiche localizzate sulla superficie o all’interno di qualsiasi materiale. Le immagini sono ottenute illuminando il campione ad una certa lunghezza d'onda e misurando la trasmissione o la riflessione locale della luce insieme ad una immagine topografica. Il confronto tra le immagini SNOM e topografiche consente di localizzare le strutture ottiche in aree precise del campione con risoluzione nanometrica.
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