La microscopia ad effetto tunnel (STM) è una tecnica che permette lo studio della superficie dei materiali con una risoluzione laterale dell’ordine di grandezza di un singolo atomo. Tale straordinaria capacità è ottenuta mediante la scansione della superficie del campione con una punta metallica mantenuta ad una distanza di qualche nm, permettendo il passaggio di corrente per effetto tunnel.
Oltre all’indagine microscopica, la spettroscopia STS consente lo studio, con risoluzione atomica, della densità locale degli stati elettronici della superficie.
L'uso del microscopio ad effetto tunnel consente, quindi, uno studio della struttura della superficie e delle proprietà elettroniche dei materiali a livello atomico.
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