La microscopia ottica a scansione a campo prossimo (SNOM) consente di osservare strutture ottiche localizzate sulla superficie o all’interno di…Read More
La diffrazione di fotoelettroni (PED) è un’applicazione avanzata dell’XPS, che viene usata per determinare le proprietà strutturali dei solidi, come…Read More
Utilizziamo cookie essenziali per il funzionamento del sito. Puoi decidere tu stesso se consentire o meno i cookie. Ti preghiamo di notare che se li rifiuti, potresti non essere in grado di utilizzare tutte le funzionalità del sito.