La Fluorescenza Totale con Raggi X (TXRF) è una metodologia ultra sensibile per le misure elementali di superfice. La differenza tra la metodologia Fluorescenza con Raggi X(XRF) e La Fluorescenza Totale con Raggi X (TXRF) è che, la seconda viene effettuata utilizzando l’incidenza radente. Il fascio incidente sul campione forma un angolo minore di 1°. In questa configurazione geometrica si migliora il rapporto segnale /rumore e si aumenta la sensibilità di misura. La radiazione emessa dal campione è raccolta da un rivelatore ed il software per l’analisi dei dati permette di identificare le specie in traccia presenti sul campione.
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