Fluorescenza Totale con Raggi X (TXRF)

Fluorescenza Totale con Raggi X (TXRF)

La Fluorescenza Totale con Raggi X (TXRF) è una metodologia ultra sensibile per le misure elementali di superfice. La differenza tra la metodologia Fluorescenza con Raggi X(XRF) e La Fluorescenza Totale con Raggi X (TXRF) è che, la seconda viene effettuata utilizzando l’incidenza radente. Il fascio incidente sul campione forma un angolo minore di 1°. In questa configurazione geometrica si migliora il rapporto segnale /rumore e si aumenta la sensibilità di misura. La radiazione emessa dal campione è raccolta da un rivelatore ed il software per l’analisi dei dati permette di identificare le specie in traccia presenti sul campione.

Oxford-Si-Pin

Utilizziamo cookie essenziali per il funzionamento del sito. Puoi decidere tu stesso se consentire o meno i cookie. Ti preghiamo di notare che se li rifiuti, potresti non essere in grado di utilizzare tutte le funzionalità del sito.