La spettroscopia a scansione tunnel (STS) è una tecnica usata nell'ambito della microscopia a scansione tunnel (STM) per misurare la densità di stati locale oppure la gap della superficie di un materiale. Più in generale, l'STS può fornire una mappatura superficiale delle proprietà elettroniche del campione. La misura è effettuata mediante modulazione della differenza di potenziale applicata alla punta. Le curve di spettroscopia tunnel dI/dV possono essere acquisite su un punto singolo o su una particolare zona della superficie.
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