L'attività scientifica del presente progetto consiste nello studio delle proprietà elettroniche di sistemi topologici bi-dimensionali, quali film sottili e multi-strati. Questi sistemi saranno cresciuti in condizioni di ultra-alto vuoto e caratterizzati strutturalmente tramite diffrazione elettronica a bassa energia. La loro struttura elettronica verrà analizzata tramite spettroscopia di fotoemissione con l’utilizzo di luce di sincrotrone.

Titoli richiesti: Diploma di laurea in Fisica, Chimica, Scienza dei Materiali e discipline affini conseguito secondo la normativa in vigore anteriormente al D.M. 509/99, oppure della Laurea Specialistica/Magistrale in Fisica, Chimica, Scienza dei Materiali e discipline affini (D.M. 5 maggio 2004)

Esperienza nell’ambito della tematica.
Conoscenza della lingua inglese.
Conoscenza della lingua italiana (solo per i candidati stranieri).

Scadenza 26/10/2022 - Durata 1 anno

Sede Secondaria di Trieste - VUV-Photoemission beamline - Referente scientifico: Paolo Moras