PIFS è una tecnica photon in - photon out, che sfrutta l'analisi dei caratteristici fotoni "secondari" (o di fluorescenza) emessi da un materiale illuminato dai raggi X.
Questa tecnica è disponibile sulla linea di luce GasPhase in due diverse varianti utilizzando la sorgente di radiazione di sincrotrone di Elettra (Trieste, I), che offre luce brillante, coerente, accordabile e monocromatica.
- Spettroscopia di emissione di raggi X (XES)
Grazie alla sua sensibilità atomica la XES è uno strumento analitico molto potente. Fornisce sia indicazioni elementali, che sul sito specifico d'assorbimento del fotone primario; è inoltre estremamente utile nello studio della struttura elettronica delle molecole. La posizione delle linee di emissione riflette piccoli cambiamenti nei livelli elettronici occupati, mentre l'intensità dell'emissione in funzione dell'energia del fotone incidente ne fornisce sugli orbitali molecolari non occupati.
- Spettroscopia di fluorescenza Vis-UV
L'analisi della fluorescenza vis-UV consente di identificare i frammenti molecolari e atomici prodotti dalla dinamica di rilassamento delle eccitazioni primarie di guscio interno. Permette in questo modo distinguere tra diversi meccanismi di rilassamento e ottenere preziose informazioni sulla natura delle eccitazioni di guscio interno.
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