La fotocorrente generata da semiconduttori irraggiati da un fascio di raggi X può essere uno strumento molto utile per caratterizzare la sensibilità dei materiali ai raggi X e la risposta alla dose e/o rateo di dose della radiazione. Lo strumento è particolarmente utile anche per valutare il tempo di vita della mobilità dei portatori di carica fotogenerati all’interno del semiconduttore, che rappresenta una misura della sua capacità di trasporto.
La tecnica si basa sulla misurazione della fotocorrente, raccolta applicando un campo elettrico sul dispositivo sottoposto a test e indotta dall'interazione con un fascio di raggi X focalizzabile. La catena elettronica per questo tipo di misure è particolarmente sensibile ed è costituita da un modulatore meccanico, un amplificatore a trans-impedenza, un amplificatore lock-in ed un generatore di tensione.
Italiano (Italia) 
English (UK)