La microscopia ottica a scansione a campo prossimo (SNOM) consente di osservare strutture ottiche localizzate sulla superficie o all’interno di qualsiasi materiale. Le immagini sono ottenute illuminando il campione ad una certa lunghezza d'onda e misurando la trasmissione o la riflessione locale della luce insieme ad una immagine topografica. Il confronto tra le immagini SNOM e topografiche consente di localizzare le strutture ottiche in aree precise del campione con risoluzione nanometrica.
![Microscopia ottica a scansione a campo prossimo (SNOM)](/images/tempism/analisi/microscopia/SNOM2_v.png)