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Consiglio Nazionale delle Ricerche - Istituto di Struttura della Materia
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Infrastrutture
| 1. ADES 450 | |
| Descrizione: | Apparato UPS, XPS e Auger risolto in angolo per la caratterizzazione di substrati e superfici di semiconduttori e overlayer metallici |
| Sede: | ARTOV |
| Gruppo: | MD.P06.006 |
| Riferimento: | Antonio Cricenti |
| 2. Apparato di deposizione UHV | |
| Descrizione: | Apparato di deposizione films sottili munito di sistema di pompaggio a turbina separato per camera e precamera. |
| Sede: | MLIB |
| Riferimento: | Anna Maria Paoletti |
| 5. EDRX | |
| Descrizione: | Diffrattometro a raggi X in Dispersione di Energia |
| Sede: | ARTOV |
| Gruppo: | MD.P03.006 |
| Riferimento: | Valerio Rossi Albertini |
| 6. KSV 2000 | |
| Descrizione: | Apparato per la realizzazione di films sottili Langmuir-Blodgett (LB) |
| Sede: | MLIB |
| Riferimento: | Aldo Capobianchi |
| 7. Laboratorio IC11SSL | |
| Descrizione: | Camera UHV per lo studio di superfici |
| Sede: | ARTOV |
| Gruppo: | MD.P06.005 |
| Riferimento: | Giorgio Contini |
| 8. Linea di Luce di Sincrotone Circolarmente Polarizzata | |
| Descrizione: | La caratteristica principale della linea è quella di fornire un fascio di radiazione di sincrotrone a polarizzazione variabile (Circolare e/o Lineare) in un ampio intervallo spettrale che copre l’intervallo di energie tra 5eV e 1000eV. |
| Sede: | Trieste |
| Gruppo: | MD.P06.005 |
| Riferimento: | Nicola Zema |
| 9. Linea di Luce di Sincrotrone per spettroscopia VUV | |
| Descrizione: | La linea di luce di sincrotrone ad alta brillanza nell’intervallo spettrale da 15 eV a 1000 eV, nel quale è in grado di operare con un potere risolutivo medio di 104. |
| Sede: | Trieste |
| Gruppo: | MD.P04.004 |
| Riferimento: | Carlo Carbone |
| 10. MBE | |
| Descrizione: | Apparato per Molecular Beam Epitaxy per la crescita di semiconduttori magnetici diluiti come MnxGe1-x, composti ferromagnetici Mn5Ge3, strati epitassiali o dots di Ge/Si, SiGe/Si drogati con Mn (Sb, As e Bi) |
| Sede: | ARTOV |
| Gruppo: | MD.P04.004 |
| Riferimento: | Paola De Padova |
| 11. PLD | |
| Descrizione: | Laser eccimeri KrF (246nm), 300mJ, 50Hz - Camera deposizione HV |
| Sede: | MLIB |
| Riferimento: | Elisabetta Agostinelli |
| 12. SPM | |
| Descrizione: | Laboratori di Scanning Probe Microscopy |
| Sede: | ARTOV |
| Gruppo: | MD.P06.006 |
| Riferimento: | Antonio Cricenti |
| 13. Spettrometro EPR | |
| Descrizione: | Spettrometro Varian E-109, Hmax 1.5 T f= 9.1 e 35 GHz T= 4-300 K |
| Sede: | MLIB |
| Riferimento: | Donato Attanasio |
| 14. Spettrometro FT-IR | |
| Descrizione: | IR-Prestige-21 Shimadzu; intervallo lunghezze d'onda 7.800 – 350 cm-1; |
| Sede: | MLIB |
| Riferimento: | Elvira Maria Bauer |
| 15. Spettrometro UV-Visibile | |
| Descrizione: | Spectrophotometer 950 Perkin-Elmer; intervallo lunghezze d'onda 175 – 3300 nm; UV/Vis risoluzione 0.05 – 5.00 nm; Nir risoluzione 0.2 – 20 nm; accessori: riflettanza speculare (URA); riflettanza diffusione a sfera integratrice |
| Sede: | MLIB |
| Riferimento: | Elvira Maria Bauer |
| 16. SQUID RF | |
| Descrizione: | Hmax 5.5 T; T= 2-300K |
| Sede: | MLIB |
| Riferimento: | Alberto Maria Testa |
| 17. Suscettometro-AC | |
| Descrizione: | T=4-300K; f=10Hz-10kHz |
| Sede: | MLIB |
| Riferimento: | Dino Fiorani |
| 18. VSM | |
| Descrizione: | Magnetometro vettoriale VMS; Hmax 2T; T=70-300K |
| Sede: | MLIB |
| Riferimento: | Alberto Maria Testa |
Aggiornato il
23-02-2009
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